报告推荐 X射线荧光光谱技术在新材料研发中的应用
发布日期：2024-11-27 点击次数：
限国产！东南大学集成电路学院预算850万元采购1套高精度三维X射线成像仪
的基本原理着手，结合实际应用案例★★◆◆◆，介绍微区X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱以及波长色散X射线荧光光谱技术在新材料研发中的多种应用■★◆，如原位定量分析和元素分布成像等◆■◆★，以帮助材科研人员更深入地理解X射线荧光光谱技术◆■■■★■，并有效地将其应用于材料研发中。
基于此，仪器信息网拟定2024年12月17-18日召开“第六届材料表征与分析检测新技术网络会议”◆★◆◆，旨在帮助广大学者了解前沿表征与分析检测技术■■★◆★■，攻克材料研究中的表征与分析检测难题，顺利开展表征与检测相关工作◆★。
材料表征与分析检测技术贯穿材料研发、设计到制备的全流程■◆。深入◆★◆、准确的表征与分析技术在解析材料结构◆◆★■■、评价其性能的同时，指导材料的研发方向并为生产工艺的改进提供坚实的科学依据。材料科学的蓬勃发展和材料表征与分析检测技术的不断进步息息相关。
本届会议精心策划成分分析、微区结构与形貌分析■★★、表面和界面分析、物相及热性能分析4个专场，邀请材料科学领域相关检测技术研究与应用专家、知名科学仪器企业技术代表■★■■◆■，以在线分享报告的形式，深入探讨材料表征及分析检测技术的无限可能。同时，本次会议也为参会者们提供一个突破时间地域限制的免费学习■◆◆■、交流平台。
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